Nano care 1 white light interference –Non-contact 3D surface profiler
Nano care 1 white light interference -Non-contact 3D surface profiler – Nano care 1 Optical 3D Surface profilometer is an ideal instrument for sub-Nanometer measurement of various precision parts. Based on the principle of white light interference technology, combined with precision Z-direction scanning module and 3D modeling algorithm, it con tactlessly scans the surface of the object then establish a 3D image for the surface. A serial of 2D, 3D parameters reflecting surface quality of the object are obtained after software processes and analyzes the 3D image.
Nano care 1 is a user-friendly precision optical instrument with powerful analysis functions for all kinds of surface form & roughness parameters. With unique light source it could measure various precision parts with both smooth and rough surface.
Nano care 1 white light interference -Non-contact 3D surface profiler – โพรฟิโลมิเตอร์พื้นผิวแบบ 3 มิติแบบออปติคัล Nano care 1 เป็นเครื่องมือที่เหมาะสำหรับการวัดแบบย่อยนาโนเมตรของชิ้นส่วนที่มีความแม่นยำต่างๆ โดยอาศัยหลักการของเทคโนโลยีการรบกวนของแสงสีขาว ร่วมกับโมดูลการสแกนทิศทาง Z ที่มีความแม่นยำและอัลกอริทึมการสร้างแบบจำลอง 3 มิติ โดยโพรฟิโลมิเตอร์จะสแกนพื้นผิวของวัตถุโดยไม่สัมผัส จากนั้นจึงสร้างภาพ 3 มิติสำหรับพื้นผิว จากนั้นจึงได้พารามิเตอร์ 2 มิติ 3 มิติแบบอนุกรมที่สะท้อนคุณภาพพื้นผิวของวัตถุหลังจากประมวลผลซอฟต์แวร์และวิเคราะห์ภาพ 3 มิติ
Nano care 1 เป็นเครื่องมือวัดความแม่นยำที่ใช้งานง่ายพร้อมฟังก์ชันการวิเคราะห์อันทรงพลังสำหรับพารามิเตอร์รูปร่างและความหยาบของพื้นผิวทุกประเภท ด้วยแหล่งกำเนิดแสงที่เป็นเอกลักษณ์ จึงสามารถวัดชิ้นส่วนที่มีความแม่นยำต่างๆ ได้ทั้งที่มีพื้นผิวเรียบและหยาบ
Main Features
- High stability measurement: non-contact, high stability and high speed measurement using optical interference technology;
- High-precision measurement: optical resolution : 0.4um;
- Large-area measurement: automatic stitching technology realizes large-area high-precision measurement;
- Unique special light source mode: it can be widely used for measuring the surface of various precision devices from smooth to rough
- The measurement parameters cover a wide range: the flatness, roughness, waviness, surface profile, surface defects, wear, corrosion, pore gap, step height, bending deformation of the surface of various products, components and materials. Measure and analyze surface topography features such as processing conditions;
- Complete software functions: integrated measurement and analysis software, automatic multi-area measurement function, batch measurement, automatic focus, automatic brightness adjustment, etc.;
- Wide application range: measure the surface microstructure of various types of samples;
Excellent cost performance: maintenance-free , excellent performance-price ratio.
คุณสมบัติหลัก (Main Features)
- การวัดที่มีเสถียรภาพสูง: วัดแบบไม่สัมผัส ด้วยเทคโนโลยีอินเตอร์เฟอเรนซ์ทางแสง ให้ความเสถียรและความเร็วสูง
- การวัดความแม่นยำสูง: ความละเอียดทางแสง 0.4 ไมโครเมตร
- วัดพื้นที่ขนาดใหญ่: ใช้เทคโนโลยีการต่อภาพอัตโนมัติ (Automatic Stitching) เพื่อให้สามารถวัดพื้นที่ใหญ่ได้อย่างแม่นยำสูง
- โหมดแหล่งกำเนิดแสงพิเศษเฉพาะ: รองรับการวัดพื้นผิวของอุปกรณ์ความแม่นยำหลากหลาย ตั้งแต่พื้นผิวเรียบจนถึงพื้นผิวหยาบ
- ครอบคลุมพารามิเตอร์การวัดหลากหลาย: เช่น ความเรียบ, ความขรุขระ, ความเป็นคลื่น, รูปร่างผิว, ข้อบกพร่องของผิว, การสึกหรอ, การกัดกร่อน, ช่องว่าง, ระดับความสูงของขั้น, และการโก่งงอของพื้นผิวผลิตภัณฑ์และวัสดุต่าง ๆ รวมถึงการวิเคราะห์สภาพพื้นผิวจากกระบวนการผลิต
- ซอฟต์แวร์ที่ครบถ้วน: มีฟังก์ชันวัดและวิเคราะห์ในตัว พร้อมรองรับการวัดหลายจุดอัตโนมัติ, การวัดแบบกลุ่ม, โฟกัสอัตโนมัติ, ปรับความสว่างอัตโนมัติ ฯลฯ
- รองรับการใช้งานหลากหลาย: สามารถวัดโครงสร้างผิวระดับไมโครของตัวอย่างหลากหลายประเภท
- คุ้มค่า คุ้มราคา: ไม่ต้องบำรุงรักษา ให้ประสิทธิภาพดีเยี่ยมในต้นทุนที่เหมาะสม
Main Applications
It is used for measurement and analysis of surface roughness and profile of precision components from industries of semi-conductor, 3C Electronics, ultraprecise machining, optical machining, micro-nano materials, micro-electro-mechanical system.
- Optical device surface, optical processing
- Semiconductor manufacturing and packaging process inspection
- Ultra-precision processing industries such as MEMS devices
- 3C electronic glass screen and its precision accessories
- Micro-nano materials and manufacturing
- Aerospace, defense and industry, scientific research institutes
- Measure the roughness, flatness, micro-geometric profile, curvature, etc. of all kinds of objects ranging from super smooth to rough, from low reflectivity to high reflectivity, from nanometer to micrometer level workpieces, and provide according to ISO/ASME/EUR /GBT’s four major domestic and foreign standards total more than 300 kinds of 2D and 3D parameters as evaluation criteria.
การประยุกต์ใช้งานหลัก (Main Applications)
ใช้สำหรับการวัดและวิเคราะห์ความขรุขระและรูปร่างพื้นผิวของชิ้นส่วนความแม่นยำสูงในอุตสาหกรรมต่าง ๆ เช่น: พื้นผิวของอุปกรณ์ออปติคและกระบวนการแปรรูปทางแสง, การตรวจสอบกระบวนการผลิตและบรรจุภัณฑ์ในอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์, อุตสาหกรรมการแปรรูปความแม่นยำสูง เช่น อุปกรณ์ MEMS, หน้าจอกระจกอิเล็กทรอนิกส์ 3C และอุปกรณ์เสริมที่ต้องการความแม่นยำสูง, วัสดุและกระบวนการผลิตระดับไมโคร-นาโน, อุตสาหกรรมการบินและอวกาศ การป้องกันประเทศ อุตสาหกรรมทั่วไป และสถาบันวิจัยทางวิทยาศาสตร์
สามารถวัดคุณสมบัติต่าง ๆ ของพื้นผิวได้หลากหลาย เช่น:
- ความขรุขระ (Roughness)
- ความเรียบ (Flatness)
- รูปทรงทางเรขาคณิตระดับจุลภาค (Micro-geometric profile)
- ความโค้ง (Curvature)
รองรับวัตถุหลากหลายประเภท ตั้งแต่พื้นผิวที่เรียบเป็นพิเศษไปจนถึงพื้นผิวหยาบ ทั้งแบบสะท้อนแสงต่ำจนถึงสะท้อนแสงสูง ขนาดตั้งแต่ระดับนาโนเมตรจนถึงไมโครเมตร
มาตรฐานที่รองรับ: รองรับการประเมินตามมาตรฐานสากล 4 กลุ่มใหญ่ ได้แก่ ISO / ASME / EUR / GBT รวมกว่า 300 พารามิเตอร์ในรูปแบบ 2D และ 3D
