Products

• Automatic alignment with excellent repeatability based on optimized alignment algorithms and precision stage control
• Automatic gap control and angle alignment using a precision displacement sensor
• Quick input port alignment with multimode fibers
• Fast initial alignment based on vision processing and 2D scanning algorithm
• Convenient graphic user interface (GUI) and versatile functions for data management
• Remote controlled via user software
• Compact mechanical design

ระบบจัดแนวและยึดติดอัตโนมัติ

• จัดแนวอัตโนมัติด้วยความสามารถในการทำซ้ำสูง ด้วยอัลกอริทึมการจัดแนวที่ปรับให้เหมาะสมและการควบคุมสเตจที่มีความแม่นยำสูง
• ควบคุมระยะห่าง และการจัดแนวมุมอัตโนมัติ ด้วยเซนเซอร์วัดการกระจัดความแม่นยำสูง
• จัดแนวพอร์ตอินพุตได้อย่างรวดเร็วด้วยไฟเบอร์แบบมัลติโหมด
• จัดแนวเริ่มต้นได้รวดเร็วด้วยระบบประมวลผลภาพและอัลกอริทึมสแกนแบบ 2 มิติ
• ส่วนติดต่อผู้ใช้แบบกราฟิก ใช้งานสะดวก พร้อมฟังก์ชันจัดการข้อมูลที่หลากหลาย
• ควบคุมระยะไกลผ่านซอฟต์แวร์ของผู้ใช้
• ออกแบบโครงสร้างเชิงกลแบบกะทัดรัด

• Wafer level tester for up to 12-inch wafers (depending on probe station)
• Automatic input/output coupling (wafer level vertical coupling)
• Coupling to fiber array block and/or optical fiber
• Convenient graphic user interface (GUI)
• Versatile alignment functions using image processing and contact sensors
• Automatic height control system

ระบบทดสอบเวเฟอร์ซิลิคอนโฟโตนิกส์

• ระบบทดสอบระดับเวเฟอร์ รองรับเวเฟอร์ขนาดสูงสุด 12 นิ้ว (ขึ้นอยู่กับ Probe Station ที่ใช้งาน)
• ระบบคัปปลิงอินพุต/เอาต์พุตอัตโนมัติ (Wafer-Level Vertical Coupling)
• รองรับการคัปปลิงเข้ากับ Fiber Array Block และ/หรือสายใยแก้วนำแสง
• ส่วนติดต่อผู้ใช้แบบกราฟิก ใช้งานสะดวก
• ฟังก์ชันการจัดแนวที่หลากหลายด้วยระบบประมวลผลภาพและเซนเซอร์สัมผัส
• ระบบควบคุมความสูงอัตโนมัติ