Optical Performance Testing

1550nm Ultra-narrow linewidth laser source Module – Dimension Ultra-narrow linewidth laser source Module is a low-noise Single Frequency fiber laser based on Distributed Feedback Bragg Grating (DFB) technology. It has independent intellectual property rights and achieves a stable single-frequency laser output with single longitudinal mode, linear polarization, and narrow linewidth.

Ultra-narrow linewidth laser source Module has very low phase and frequency noise and low relative intensity noise (RIN). Dimension uses unique packaging technology to ensure low-noise DFB single frequency fiber lasers with excellent wavelength stability.

Dimension uses extra-cavity technology to significantly suppress the relative intensity noise (RIN) of the DFB single frequency fiber laser, ensuring that the resonant cavity of the single frequency fiber laser is not disturbed. Thanks to RIN suppression technology, Ultra-narrow linewidth laser source Module’s relaxation oscillation peak intensity noise is reduced by more than 40dB.

Ultra-narrow linewidth laser source Module is based on erbium-doped fiber with ultra-narrow linewidth (<1kHz) and very low phase noise and frequency noise. The standard wavelength is 1550.12nm, and the optional wavelength range is 1530-1570nm, such as the standard wavelength under the ITU framework. Other wavelengths can be customized according to requirements.

1550nm Ultra-narrow linewidth laser source Module – โมดูลแหล่งเลเซอร์เส้นแบนแคบพิเศษ Dimension Ultra-narrow linewidth laser source Module เป็นเลเซอร์ไฟเบอร์ความถี่เดียวที่มีสัญญาณรบกวนต่ำซึ่งใช้เทคโนโลยี Distributed Feedback Bragg Grating (DFB) โมดูลนี้มีสิทธิ์ในทรัพย์สินทางปัญญาอิสระและให้เอาต์พุตเลเซอร์ความถี่เดียวที่เสถียรด้วยโหมดตามยาวเดี่ยว โพลาไรเซชันเชิงเส้น และเส้นแบนแคบ

โมดูลแหล่งเลเซอร์เส้นแคบพิเศษมีสัญญาณรบกวนเฟสและความถี่ที่ต่ำมาก รวมถึงสัญญาณรบกวนความเข้มสัมพัทธ์ (RIN) ที่ต่ำ Dimension ใช้เทคโนโลยีบรรจุภัณฑ์เฉพาะเพื่อให้แน่ใจว่าเลเซอร์ไฟเบอร์ความถี่เดียว DFB มีสัญญาณรบกวนต่ำพร้อมเสถียรภาพความยาวคลื่นที่ยอดเยี่ยม

Dimension ได้ใช้เทคโนโลยีโพรงพิเศษเพื่อลดสัญญาณรบกวนความเข้มสัมพัทธ์ (RIN) ของไฟเบอร์เลเซอร์ความถี่เดียว DFB อย่างมีนัยสำคัญ ทำให้มั่นใจได้ว่าโพรงเรโซแนนซ์ของไฟเบอร์เลเซอร์ความถี่เดียวจะไม่ถูกรบกวน ด้วยเทคโนโลยีลดสัญญาณรบกวน RIN เสียงรบกวนความเข้มสูงสุดของการสั่นแบบผ่อนคลายของโมดูลแหล่งเลเซอร์เส้นแคบพิเศษจึงลดลงมากกว่า 40dB

โมดูลแหล่งเลเซอร์เส้นแบนแคบพิเศษใช้ไฟเบอร์ที่เจือด้วยเออร์เบียมซึ่งมีเส้นแบนแคบพิเศษ (<1kHz) และมีสัญญาณรบกวนเฟสและสัญญาณรบกวนความถี่ที่ต่ำมาก ความยาวคลื่นมาตรฐานคือ 1550.12 นาโนเมตร และช่วงความยาวคลื่นเสริมคือ 1530-1570 นาโนเมตร เช่นเดียวกับความยาวคลื่นมาตรฐานภายใต้กรอบงาน ITU ความยาวคลื่นอื่นๆ สามารถปรับแต่งได้ตามความต้องการ

Product Overview

BERT 800 800G Bit Error Rate Tester – Optical communication has become the backbone of modern communication technology due to its low transmission loss, high capacity, and fast speeds. As transmission rates continue to accelerate, accurately measuring bit error rates in opti.cal modules is crucial to ensure reliable performance. Dimension Technology’s BERT800 bit error tester series ofers acomprehensive solution for testing and verifving high-speed optical transceiver modules. These versatile devices can beused in various applications, including mass production, performance verification, and reliability testing. By combining auniversal control board with interchangeable interface boards, the BERT800 series provides a flexible platform for testingbit error rates, configuring module parameters, and monitoring module status.

BERT 800 800G Bit Error Rate Tester – การสื่อสารด้วยแสงกลายเป็นกระดูกสันหลังของเทคโนโลยีการสื่อสารสมัยใหม่ เนื่องจากมีการสูญเสียในการส่งข้อมูลต่ำ ความจุสูง และความเร็วสูง ในขณะที่อัตราการส่งข้อมูลยังคงเพิ่มขึ้นอย่างต่อเนื่อง การวัดอัตราข้อผิดพลาดบิตอย่างแม่นยำในโมดูลออปติกจึงมีความสำคัญอย่างยิ่งต่อการรับประกันประสิทธิภาพที่เชื่อถือได้ เครื่องทดสอบข้อผิดพลาดบิตซีรีส์ BERT800 ของ Dimension Technology ได้นำเสนอโซลูชันที่ครอบคลุมสำหรับการทดสอบและยืนยันโมดูลทรานซีฟเวอร์ออปติกความเร็วสูง อุปกรณ์อเนกประสงค์เหล่านี้สามารถใช้ได้ในแอปพลิเคชันต่างๆ รวมถึงการผลิตจำนวนมาก การตรวจสอบประสิทธิภาพ และการทดสอบความน่าเชื่อถือ ด้วยการรวมบอร์ดควบคุมสากลเข้ากับบอร์ดอินเทอร์เฟซแบบเปลี่ยนแทนกันได้ ซึ่งซีรีส์ BERT800 ได้อบแพลตฟอร์มที่ยืดหยุ่นสำหรับการทดสอบอัตราข้อผิดพลาดบิต การกำหนดค่าพารามิเตอร์โมดูล และการตรวจสอบสถานะของโมดูล

Product Overview

CR600 60Gbaud Optical/Electrical Clock Data Recovery Unit – The Dimension CR600 Optoelectronic Clock Recovery Unit supports both NRZ and PAM4 modulation formats, with the capability to recoveroptoelectronic clock up to 60 GBaud. The system integrates single and muli-mode OE conversion circuits, and clock recovery circuits, making itsuitable for both electrical and optical applications. The unit meets the stringent requirements for high sensitivity and low inherent jiter, ensuringexcelent measurement accuracy. With a user-friendly interface, itis easy to conigure and use. Whether you’re testing computer systems, opticalcommunicalion svstems, or veriving standards comolance the Dimension cR600 Clock Recoverv unit oers an outstanding. hiohiy reliable. angcost-efective clock recovery solution.

CR600 60Gbaud Optical/Electrical Clock Data Recovery Unit – หน่วยกู้คืนนาฬิกาออปโตอิเล็กทรอนิกส์ Dimension CR600 รองรับรูปแบบการมอดูเลตทั้ง NRZ และ PAM4 โดยมีความสามารถในการกู้คืนนาฬิกาออปโตอิเล็กทรอนิกส์ได้ถึง 60 GBaud ระบบนี้ผสานวงจรแปลง OE แบบโหมดเดียวและหลายโหมด และวงจรกู้คืนนาฬิกา ทำให้เหมาะสำหรับการใช้งานทั้งทางไฟฟ้าและออปติก หน่วยนี้ตรงตามข้อกำหนดที่เข้มงวดสำหรับความไวสูงและจิตเตอร์โดยธรรมชาติต่ำ ทำให้มั่นใจได้ถึงความแม่นยำในการวัดที่ยอดเยี่ยม ด้วยอินเทอร์เฟซที่ใช้งานง่าย จึงกำหนดค่าและใช้งานง่าย ไม่ว่าคุณจะกำลังทดสอบระบบคอมพิวเตอร์ ระบบการสื่อสารด้วยแสง หรือการตรวจสอบมาตรฐานที่เกี่ยวข้อง หน่วยกู้คืนนาฬิกา Dimension cR600 ได้นำเสนอโซลูชันการกู้คืนนาฬิกาที่มีประสิทธิภาพ เชื่อถือได้ และคุ้มค่า

High-speed Optical Power Meter – When the optical power changes at a high speed, it is a great challenge for the power meter to accurately and quickly capture the power value. The traditional optical power meter cannot meet the demand for high-speed and accurate measurement. Therefore, the high-speed optical power meter came into being. Traditional optical power meters take a lot of time in power value integration and gain shift switching in order to measure the accuracy of numerical values and the requirements of large dynamic range, so they cannot output effective optical power values quickly and accurately. Therefore, it cannot meet the application requirements of high-speed automated test systems and high-speed monitoring systems.

Dimension Technology’s high-speed optical power meter ensure high-speed power output and meet the needs of large dynamic range at high speed in principle design and component selection. It has batch acquisition working mode and trigger acquisition mode, and can provide high-speed continuous acquisition of up to 10KHz,large dynamic range (+10dBm~-70dBm), and a storage depth of 10 million measurement data(Each channel). Cooperating with tunable light source products, it provides a high-efficiency and high-performance test solution for the rapid scanning of optical passive devices (DWDM, AWG, WSS and so on)

High-speed Optical Power Meter – เมื่อกำลังแสงเปลี่ยนแปลงด้วยความเร็วสูง การวัดค่ากำลังแสงได้อย่างแม่นยำและรวดเร็วถือเป็นความท้าทายอย่างยิ่งสำหรับเครื่องวัดกำลังแสงแบบดั้งเดิมที่ไม่สามารถตอบสนองความต้องการการวัดด้วยความเร็วสูงและแม่นยำได้ ดังนั้น เครื่องวัดกำลังแสงแบบความเร็วสูงจึงถือกำเนิดขึ้น เครื่องวัดกำลังแสงแบบดั้งเดิมใช้เวลานานในการรวมค่ากำลังแสงและการเปลี่ยนเกนชิฟต์เพื่อวัดความแม่นยำของค่าตัวเลขและข้อกำหนดของช่วงไดนามิกขนาดใหญ่ จึงไม่สามารถส่งออกค่ากำลังแสงที่มีประสิทธิภาพได้อย่างรวดเร็วและแม่นยำ ดังนั้นจึงไม่สามารถตอบสนองความต้องการการใช้งานของระบบทดสอบอัตโนมัติความเร็วสูงและระบบตรวจติดตามความเร็วสูงได้

เครื่องวัดกำลังแสงความเร็วสูงของ Dimension Technology ได้รับประกันเอาต์พุตพลังงานความเร็วสูงและตอบสนองความต้องการของช่วงไดนามิกขนาดใหญ่ด้วยความเร็วสูงในการออกแบบหลักและการเลือกส่วนประกอบ มีโหมดการทำงานการรับข้อมูลแบบแบตช์และโหมดการรับข้อมูลแบบทริกเกอร์ และสามารถให้การรับข้อมูลต่อเนื่องความเร็วสูงถึง 10KHz ในช่วงไดนามิกขนาดใหญ่ (+10dBm~-70dBm) และความลึกในการเก็บข้อมูลการวัด 10 ล้านรายการ (ในแต่ละช่อง) พร้อมทั้งทำงานร่วมกับผลิตภัณฑ์แหล่งกำเนิดแสงแบบปรับได้ ช่วยให้มีโซลูชันการทดสอบประสิทธิภาพสูงและสมรรถนะสูงสำหรับการสแกนอุปกรณ์พาสซีฟออปติคอลอย่างรวดเร็ว (DWDM, AWG, WSS และอื่นๆ)